现代X射线荧光光谱仪的进展
谢荣厚, 高新华, 盛伟志, 丁志强
冶金分析 . 1999, (1): 32 -36 . 

京公网安备:11010802029195号　京ICP备06016127号
版权所有 © 《冶金分析》编辑部
地址：北京市海淀区学院南路76号　
邮编：100081　
电话：010-62182398　 E-mail：yjfx@analysis.org.cn
技术支持：北京玛格泰克科技发展有限公司