现代X射线荧光光谱仪的进展

谢荣厚; 高新华; 盛伟志; 丁志强

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冶金分析 ›› 1999, Vol. 19 ›› Issue (1) : 32-36.

研究报告与工作简报

现代X射线荧光光谱仪的进展

谢荣厚,高新华,盛伟志,丁志强

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摘要

近年来Ｘ射线荧光光谱分析有了长足的进步，特别在数据处理以及其关键部件，如Ｘ射线管、晶体等方面．分析检出限已达ｎｇ级，成为现代分析技术的一种重要手段．

关键词

检出限 / 同步辐射X射线荧光光谱分析 / 全反射X射线荧光光谱分析 / 人工多层膜晶体

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谢荣厚, 高新华, 盛伟志, 等. 现代X射线荧光光谱仪的进展[J]. 冶金分析, 1999, 19(1): 32-36

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出版日期
1999-02-28
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1999-02-28

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