张祥, 陆晓明, 张毅
X射线荧光光谱法(XRF)是一种近样品表面分析方法,采用XRF分析变形铝合金中合金元素时,需考虑样品表面状态以及合金元素在基体中的分布对测定造成的影响,具体表现在砂带研磨次数引起的样品表面状态变化、不同牌号变形铝合金金相组织(析出相)差异以及热处理工艺不同对测定造成的影响。为此,实验以2xxx、5xxx、6xxx、7xxx变形铝合金为研究对象,详细讨论了砂带研磨次数、析出相类型及热处理工艺对合金元素测定的影响,得出了以下结论:(1)样品采用120目氧化锆砂带抛光,但随着砂带研磨次数的增加,样品表面状态会发生变化,受合金元素测量无限厚度和样品表面阴影效应的影响,轻元素Mg和Si受样品表面状态影响较大,测定值随砂带研磨次数逐渐升高并趋于稳定,而中重元素Cr、Fe、Ti、Mn、Cu、Zn测定值基本不受影响,为此砂带在使用前需钝化至稳定状态。(2)对4个牌号共20块变形铝合金标准样品进行测定并绘制校准曲线,发现轻元素Mg和Si校准曲线线性关系不够理想,而中重元素Cr、Fe、Ti、Mn、Cu、Zn的线性关系良好,这可能是因为合金元素形成的析出相类型以及采样体积不同所导致的,建议测量轻元素时,按照变形铝合金的牌号进行分类,以消除析出相类型不同造成的影响。(3)轻元素的测定受析出相尺寸影响较大,而热处理工艺控制着析出相的尺寸大小,退火态下析出相尺寸大于淬火态和淬火时效态。受析出相吸收效应的影响,退火态下,7xxx系铝合金中Mg的测定结果小于淬火态和淬火时效态;Si因含量较低,在此不讨论对其影响;中重元素Zn、Cu、Cr、Fe、Mn、Ti测定值基本不受影响。