用高频红外碳硫仪测定碳化硅中SiC

用高频红外碳硫仪测定碳化硅中SiC

高卓成, 胡广峰, 衣中文

冶金分析 ›› 1999, Vol. 19 ›› Issue (3) : 42-43.

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冶金分析 ›› 1999, Vol. 19 ›› Issue (3) : 42-43.

研究报告与工作简报

用高频红外碳硫仪测定碳化硅中SiC

{{article.zuoZhe_CN}}

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{{article.keyPoints_en}}

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{{article.zhaiyao_cn}}

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{{article.zhaiyao_en}}

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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 1999, 19(3): 42-43

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{{article.reference}}

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