硅酸盐材料的主成分X荧光光谱分析中烧失量影响的校正

高新华; 朱一钧

PDF(540 KB)

冶金分析 ›› 1988, Vol. 8 ›› Issue (5) : 24-27.

研究报告与工作简报

硅酸盐材料的主成分X荧光光谱分析中烧失量影响的校正

高新华,朱一钧

作者信息 +

文章历史 +

摘要

介绍了XRF法测定硅酸盐材料中八个主成分(SiO_2、Al_2O_3、C_2O、MgO、TFe_2O_3、P_2O_5、K_2O和MnO)。为准确扣除烧失量对测定硅酸盐材料中主成分的影响,使用PW1600X-射线荧光光谱仪提供的XR—60软件程序,以DJ模型和实验α系数校正基体影响。此法快速、准确,并可获得高精度的分析数据。