氧化铪中杂质的光谱分析——阴极区曝光法

钱伯仁; 徐慧敏

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冶金分析 ›› 1982, Vol. 2 ›› Issue (5) : 16-18.

研究报告与工作简报

氧化铪中杂质的光谱分析——阴极区曝光法

钱伯仁,徐慧敏

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摘要

氧化铪中杂质的光谱分析一般均用载体分馏法,分析下限约为0.001%.由于氧化铪主体昂贵,希望取样量少,要求相对分析灵敏度较高.用20%氯化银作载体,取样6毫克,分析下限为0.0008～0.007之间.宝鸡有色金属研究所用氯化银、焦硫酸钠混合载体,取样30毫克,分析下限达0.0005～0.003%左右.