高频红外吸收法测定工业硅中碳

杨晓静, 郭秀红, 于艳敏, 亢若谷, 张云晖, 赵建为, 金波

冶金分析 ›› 2014, Vol. 34 ›› Issue (7) : 56-59.

PDF(844 KB)
PDF(844 KB)
冶金分析 ›› 2014, Vol. 34 ›› Issue (7) : 56-59. DOI: 10.13228/j.issn.1000-7571.2014.07.010

高频红外吸收法测定工业硅中碳

  • {{article.zuoZhe_CN}}
作者信息 +

Determination of carbon in industrial silicon by high frequency-infrared absorption method

  • {{article.zuoZhe_EN}}
Author information +
文章历史 +

本文亮点

{{article.keyPoints_cn}}

HeighLight

{{article.keyPoints_en}}

摘要

{{article.zhaiyao_cn}}

Abstract

{{article.zhaiyao_en}}

关键词

Key words

本文二维码

引用本文

导出引用
{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2014, 34(7): 56-59 https://doi.org/10.13228/j.issn.1000-7571.2014.07.010
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2014, 34(7): 56-59 https://doi.org/10.13228/j.issn.1000-7571.2014.07.010
中图分类号:

参考文献

参考文献

{{article.reference}}

基金


编委:
主编:
责任编辑:
编辑:

版权

{{article.copyrightStatement_cn}}
{{article.copyrightLicense_cn}}
PDF(844 KB)

Accesses

Citation

Detail

段落导航
相关文章

/