磁质谱法测定高丰度稳定同位素样品中氙锗硼硅丰度

曹金浩, 杨凤诚, 侯超, 刘佳龙

冶金分析 ›› 2024, Vol. 44 ›› Issue (5) : 47-53.

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冶金分析 ›› 2024, Vol. 44 ›› Issue (5) : 47-53. DOI: 10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.012391

磁质谱法测定高丰度稳定同位素样品中氙锗硼硅丰度

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Determination of abundance of xenon,germanium,boron and silicon in high abundance stable isotope samples by magnetic mass spectrometry

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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2024, 44(5): 47-53 https://doi.org/10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.012391
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2024, 44(5): 47-53 https://doi.org/10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.012391
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