基体分离-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯二氧化锗中痕量硅

郑华荣; 樊红杰; 肖世健; 肖芳; 顾雯珺; 王佳

doi:10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.012214

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冶金分析 ›› 2024, Vol. 44 ›› Issue (2) : 82-86. DOI: 10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.012214

基体分离-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯二氧化锗中痕量硅

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Determination of trace silicon in high-purity germanium dioxide by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry after matrix separation

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2023-05-11	2024-02-28

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