火花放电原子发射光谱仪分析高含量硅时校准曲线的扩展与应用

吴振; 喻能利; 蔡璐; 李永武; 嵇龙; 沈广强

doi:10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.010430

PDF(881 KB)

冶金分析 ›› 2019, Vol. 39 ›› Issue (1) : 59-63. DOI: 10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.010430

火花放电原子发射光谱仪分析高含量硅时校准曲线的扩展与应用

{{article.zuoZhe_CN}}

作者信息 +

Extension and application of calibration curve for the analysis ofhigh content silicon by spark discharge atomic emission spectrometry

{{article.zuoZhe_EN}}

Author information +

文章历史 +

本文亮点

HeighLight

摘要

Abstract

关键词

Key words

本文二维码

引用本文

EndNote

Ris (Procite)

Bibtex

导出引用

{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2019, 39(1): 59-63 https://doi.org/10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.010430

{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2019, 39(1): 59-63 https://doi.org/10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.010430

中图分类号：

参考文献

列表( 原文顺序 | 文献年度倒序 | 文中引用次数倒序 ) 可视化分析

参考文献

基金

编委：

主编：

责任编辑：

编辑:

版权

PDF(881 KB)

Accesses

Citation

Detail

段落导航

收稿日期	出版日期
2018-05-28	2019-01-28
发布日期
2018-05-28

选择文件类型/文献管理软件名称

选择包含的内容