微波消解-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定氧化铟锡靶材中11种痕量杂质元素

王志萍, 孙洪涛, 王巧

冶金分析 ›› 2018, Vol. 38 ›› Issue (5) : 60-65.

PDF(745 KB)
PDF(745 KB)
冶金分析 ›› 2018, Vol. 38 ›› Issue (5) : 60-65. DOI: 10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.010299

微波消解-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定氧化铟锡靶材中11种痕量杂质元素

  • {{article.zuoZhe_CN}}
作者信息 +

Determination of eleven trace impurity elements in indium tin oxide target material by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry after microwave digestion

  • {{article.zuoZhe_EN}}
Author information +
文章历史 +

本文亮点

{{article.keyPoints_cn}}

HeighLight

{{article.keyPoints_en}}

摘要

{{article.zhaiyao_cn}}

Abstract

{{article.zhaiyao_en}}

关键词

Key words

本文二维码

引用本文

导出引用
{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2018, 38(5): 60-65 https://doi.org/10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.010299
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2018, 38(5): 60-65 https://doi.org/10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.010299
中图分类号:

参考文献

参考文献

{{article.reference}}

基金


编委:
主编:
责任编辑:
编辑:

版权

{{article.copyrightStatement_cn}}
{{article.copyrightLicense_cn}}
PDF(745 KB)

Accesses

Citation

Detail

段落导航
相关文章

/