邵秋文, 杨国武, 陈沛沛, 侯艳霞, 宋江蕴, 乔士宾, 郑欢
本文建立了一种利用脉冲辉光放电质谱法(Pulsed-GDMS)测定高纯铼粉末中杂质元素的分析方法。实验结果表明,采用超高压制样系统,以分阶段升压方式压制至200 t,并选用加厚型聚四氟乙烯杯作为模具,可有效克服铼粉高弹性模量导致的成型困难,获得满足分析要求的压片样品。通过对仪器条件的系统优化,确定最佳放电参数为:放电电压950 V,放电气体流速400 mL/min,脉冲时间90 μs,预溅射时间35 min。在分析中全面考察了质谱干扰情况,为各元素选择了适宜的分析同位素与分辨率模式。方法各元素的检出限为0.001~0.98 μg/g,定量下限为0.003~3.3 μg/g。按照实验方法测定高纯铼粉末中69种杂质元素,结果的相对标准偏差(RSD,n=7)均小于25%。将本方法与电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)、电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)及原子吸收光谱法(AAS)进行对比,除因粉末样品激发特性导致W元素的测定结果与ICP-MS存在一定偏差外,其余元素的测定值与其他方法结果基本一致,表明本方法具有良好的准确性和可靠性。