微波消解-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定工业硅中杂质铁

赵建峰, 李伟杰, 王跃强, 杨永韬

冶金分析 ›› 2026, Vol. 46 ›› Issue (3) : 82-87.

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冶金分析 ›› 2026, Vol. 46 ›› Issue (3) : 82-87. DOI: 10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.012944

微波消解-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定工业硅中杂质铁

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Determination of iron impurity in industrial silicon by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry with microwave digestion

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