利用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定高纯钼样品中杂质元素含量时,由于钼元素具有丰富的谱线,因此钼基体对待测元素干扰较大。为了消除钼基体对待测元素的干扰,实验使用过氧化氢溶解样品,过量硝酸沉淀分离钼基体作为样品前处理步骤,建立了基体分离-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯钼中钙、铬、铜、钴、镁、镍、锌、镉和锰的方法。使用4mL过氧化氢溶解样品,10mL硝酸沉淀钼基体,钼的沉淀效率大于99%,沉淀后,各待测元素背景等效浓度均有下降,且回收率都高于85%,随沉淀损失较少。使用高纯钼基体沉淀分离的方法配制校准曲线,各待测元素校准曲线线性相关系数均大于0.9997;方法中各元素的定量限为0.20~2.03μg/g。实验方法用于测定高纯钼样品中钙、铬、铜、钴、镁、镍、锌、镉和锰,结果的相对标准偏差(RSD,n=5)为2.0%~4.8%,测定结果与电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)结果一致。

分析评价高纯亚硝酸盐中杂质含量是亚硝酸根检测及相关标准物质量值溯源的基础。以高纯NaNO₂为例,采用离子色谱法测定阴离子杂质含量,定性分析主要阴离子杂质为Cl^-、NO^-₃和SO^2-₄;采用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定K、Ca、Mg含量;采用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定其他阳离子杂质含量(K、Ca、Mg除外),发现其他主要阳离子杂质为B和Sr。结果表明所测杂质在线性范围内,线性相关系数均大于0.9990;Cl^-的检出限为0.001%(质量分数,下同),NO^-₃和SO^2-₄的检出限为0.003%,K的检出限为0.004%,Mg的检出限为0.0009%,Ca的检出限为0.00003%,B的检出限为0.000015%,Sr的检出限为0.0000074%。按照实验方法测定高纯NaNO₂中Cl^-、NO^-₃、SO^2-₄、K、Ca、Mg、B和Sr含量,测定结果的相对标准偏差(RSD,n=10)为1.8%~3.5%,加标回收率为96%~104%。方法用于高纯NaNO₂中杂质含量测定,得到Cl^-、SO^2-₄、NO^-₃、K、Mg、Ca、B和Sr的含量(质量分数,下同)分别为0.0054%、0.037%、0.033%、0.02%、0.0063%、0.0035%、0.00226%和0.000268%。实验方法可为亚硝酸根及亚硝酸盐相关测定及标准物质研制提供技术支持,研制的相关标准物质可保证亚硝酸根的量值溯源。