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| 估算二元曲线法在高合金X射线荧光分析中的应用 |
| 梁鈺,何芸华 |
| 上海钢铁研究所,上海钢铁研究所 |
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摘要 本文研究了应用多元标准试样及JIS校正常数估算及建立由分析元素和基体元素构成的二元曲线并成功地应用于高合金的分析。文章还对二元曲线的含义、曲线对标样的要求以及方法的稳定性和局限性进行了讨论。
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| 关键词 ：
元曲,
线法,
X射线荧光分析,
高合金钢,
分析元素,
共存元素,
校正系数,
多组分,
未知试样,
校正常数
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出版日期: 1989-10-30
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| 基金资助:无 |
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通讯作者:
梁鈺
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