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| PIXE分析技术在球墨铸铁元素微分析中的应用 |
| 冯松林,钟溟,刘年庆,任闽秦,王禹 |
| 中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,中国科学院高能物理研究所,北京科技大学 北京,100080,北京,100080,北京,100080,北京,100080,北京,100083 |
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摘要 本文针对常规测量方法测量球铁石墨相中反球化元素含量的局限性和灵敏度低等问题,提出用电解分离工艺提取石墨相,制成无内标和含内际厚靶,用PIXE分析技术测量反球化元素和杂质元素的含量,与电子微探针相比测量下限可以提高三个量级。
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| 关键词 ：
PIXE分析,
球铁,
微量元素
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出版日期: 1992-06-30
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| 基金资助:无 |
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通讯作者:
冯松林
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