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| 铝电解质分子比的X-射线荧光光谱法测定 |
| 高新华;舒军;张鹏; |
| 钢铁研究总院,兴澄特殊钢有限公司,鞍钢新轧质量检验中心 北京100081,江苏江阴214429,辽宁鞍山114021 |
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摘要 铝电解质分子比是铝电解生产中的一项重要指标,本文用X射线荧光光谱法测定电解质中各化合物的浓度,达到计算分子比的目的。将研磨到一定粒度的样品在300kN的压力下压成圆片,然后在优化的条件下进行测定。采用电解质标样建立校准曲线,物理和化学影响采用数学方法校正,通过应用软件中的函数计算功能,根据测定元素的浓度自动计算分子比。该方法已用于多元铝电解质分子比的测定,测定结果与X射线衍射法相符。对同一样品进行14次平行测定,所得到的相对标准偏差为0.48%。
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| 关键词 ：
电解质,
分子比,
X-射线荧光光谱法,
测定
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出版日期: 2007-02-28
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| 基金资助:无 |
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通讯作者:
高新华;
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