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| 单背景扣除法测定钢中痕量钴 |
| 朱见英 |
| 上海重型机器厂大锻所 上海 200240 |
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摘要 核电设备用钢(中低合金钢)中含钴量不得超过0.02％,要求测定钢中残钴。本文介绍使用3530多道X射线荧光光谱仪测定钢中的残钴。 3530仪器是固定通道荧光仪,由于我们无钴的通道,因此通过扫描道来进行。 我们利用“通道操作”中操作程序和记录仪,选择钴的分析线,绘制分析线强度分布图,和校正扫描道的2θ角。实验时发现Co小于0.01％时,标准分析点离散,线性差,无法获得良好的检量线,分析残钴有困难。检量线线性差的原因可能由于背景所致,于是
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| 关键词 ：
背景扣除,
痕量钴,
中低合金钢,
扫描道,
分析线,
检量线,
X荧光光谱仪,
通道操作,
固定通道,
X荧光仪
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出版日期: 1992-10-30
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| 基金资助:无 |
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通讯作者:
朱见英
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