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| 硅钼黄分光光度法测定硅微粉中二氧化硅 |
| 刘丽娟;张娜;刘瑜;李勇超;庄源益;金朝晖; |
| 南开大学环境科学与工程学院;环境污染过程与基准教育部重点实验室南开大学; |
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摘要 针对硅微粉中SiO2含量较高且含Fe、Al等杂质的特点,本文研究了一种用无水K2CO3和KOH作熔融剂,钼酸铵作显色剂并用分光光度法测定二氧化硅含量的新方法。实验结果表明,在0.1~0.3 mol/L的酸度下,正硅酸与钼酸铵生成硅钼杂多酸(硅钼黄),选择硅钼黄的吸收波长在410 nm处,表观摩尔吸光系数为8.77×106L.mol-1.cm-1。SiO2浓度在0~1.0 mg/mL范围内符合比尔定律,相关系数r=0.999 6,检出限为0.052μg/mL。本法适用于硅微粉中二氧化硅含量的测定,回收率在99%~101%之间,相对标准偏差(RSD)控制在0.79%~1.8%(n=6)范围内,测定结果与X射线荧光光谱法的结果相一致。该方法亦可推广用于其他高含量二氧化硅样品的测定。
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| 关键词 ：
二氧化硅,
硅微粉,
钼酸铵,
分光光度法
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出版日期: 2009-10-30
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通讯作者:
刘丽娟;
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