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| X射线荧光光谱法测定铁矿石中主次成分 |
| 崔黎黎; |
| 钢铁研究总院; |
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摘要 采用玻璃熔片法制样,建立测定铁矿石中TFe、SiO2、Al2O3、CaO、MgO、MnO、K2O、Ti O2、P、S等主次成分的X射线荧光光谱分析方法。确定了仪器最佳参数,采用系列标样建立了校准曲线,以数学法校正基体效应。对稀释比、熔样时间等进行了探讨,结果表明,试样和熔剂的质量比以1∶15、熔样时间以15 min为好,所得试样在熔剂中的分散度(浓度)适当,可同时适合试样中高、低含量组分的测定。采用熔融法分解试样的方法有效地消除了试样的粒度效应,精确度试验表明,待测元素的相对标准偏差在0.10%~7.14%之间,能满足铁矿石中各元素的检测要求。
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| 关键词 ：
X射线荧光光谱,
玻璃熔片法,
铁矿石,
主次成分
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出版日期: 2009-12-30
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通讯作者:
崔黎黎;
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