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| X射线荧光光谱法测定锰铁矿中稀土氧化物 |
| 张教晤 |
| 冶金部天津地质研究院 |
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摘要 X射线荧光光谱法测定稀土分量,由于不需要分离成单一稀土元素而优于化学法。测定时主要干扰元素为;铁、锰、钡、铅、镍、钽、铪等。当铁超过50Jg,锰30Jg左右,即严重干扰X射线荧光光谱测定,所以测定含锰铁矿中稀土元素分量,必须预先分
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| 关键词 ：
X射线荧光光谱法,
中稀土氧化物,
测定锰,
含锰铁矿,
单一稀土,
三乙醇胺,
盐酸羟胺,
水沉淀,
元素,
中速滤纸
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出版日期: 1986-10-30
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| 基金资助:无 |
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通讯作者:
张教晤
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