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| 滤纸基质荧光分析法测定铝的研究 |
| 林清赞,郭如斌,许金钩 |
| 厦门大学化学系,厦门大学化学系,厦门大学化学系 厦门,厦门,厦门 |
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摘要 桑色素(Morin)荧光光度法测定铝早就被研究,但采用固体表面荧光法的测定研究却未曾见报导.我们使用YF-1型荧光计,找出铝—桑色素配合物在滤纸基质上的最佳生成条件及测试条件,并用于铜合金中铝的测定,获得了满意的结果.一、主要试剂及仪器铝标准溶液(1.0mg/ml):称取0.5000g金属铝(AR),用少量浓HCl加热溶解,以1mol/L NaOH中和至弱酸性,加水定容500ml.使用时稀释至所需浓度并调节至适当的pH值;
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| 关键词 ：
滤纸基质,
桑色素配合物,
荧光分析法,
荧光值,
荧光测量,
紫外光照射,
铜合金,
铝的测定,
工作曲线,
背景荧光
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出版日期: 1991-08-30
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| 基金资助:无 |
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通讯作者:
林清赞
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