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| 测定镁合金中高含量硅的钼蓝光度法研究 |
| 路培乾 |
| 中国铝业股份有限公司郑州研究院 河南郑州450041 |
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摘要 研究了镁合金中高含量硅 (质量分数为 0.2 %～ 2.0 % )测定的各种影响因素 ,对原国家标准分析方法 (测定范围 :0 .0 0 5 %～ 0 .15 % )中不符合测定高含量硅的各种条件 (称样量、饱和溴水加入量、氟化物的用量等 )进行了重新试验 ,最后拟定了镁合金中高含量硅的分析方法。经对镁合金标样进行分析 ,证明该方法精密度和准确度均较高 ,相对标准偏差在0.77%～ 2.2 6%之间 ,其平均值与其他实验室的定值结果基本一致
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| 关键词 ：
镁合金,
硅,
钼蓝光度法
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出版日期: 2003-08-30
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| 基金资助:无 |
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通讯作者:
路培乾
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