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| ICP-AES法测定工业硅中10种杂质元素 |
| 杨万彪,傅明,陈新焕,胡宇东,袁智能 |
| 湖南出入境检验检疫局,湖南出入境检验检疫局,湖南出入境检验检疫局,湖南出入境检验检疫局,湖南出入境检验检疫局 湖南长沙410007,湖南长沙410007,湖南长沙410007,湖南长沙410007,湖南长沙410007 |
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摘要 研究了利用ICP发射光谱仪测定工业硅中Fe ,Al,Ca ,P ,Ti,Cu ,Zn ,Mg ,Mn ,Ni等 10种元素的方法 ,确定了各元素的检出限 ,回收率在 94%～ 10 5 %之间 ,RSD小于 3.5 % ,该方法用于样品测定 ,结果满意。
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| 关键词 ：
ICP-AES,
工业硅,
杂质元素测定
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出版日期: 2003-02-28
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| 基金资助:无 |
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通讯作者:
杨万彪
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