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| 差示硅钼蓝光度法测定高含量硅 |
| 张桂华,陈学琴,高文红 |
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摘要 采用差示硅钼蓝光度法测定粘土和膨润土中高含量硅 ,测量范围为 35%～ 65%。该法操作简便 ,快速 ,准确度较高。
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| 关键词 ：
高含量硅,
差示硅钼蓝光度法
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出版日期: 2000-06-30
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| 基金资助:无 |
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通讯作者:
张桂华
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吴振, 喻能利, 蔡璐, 李永武, 嵇龙, 沈广强. 火花放电原子发射光谱仪分析高含量硅时校准曲线的扩展与应用[J]. 冶金分析, 2019, 39(1): 59-63. |
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高华;贺晓东. 钼蓝光度法测定硅铁中硅[J]. 冶金分析, 2005, 25(2): 1-1. |
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王淑英;綦文娣. ZID101铸铝合金中硅、铁、锰、镁、铜和锌的光谱测定[J]. 冶金分析, 1987, 7(5): 1-1. |
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