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| 铝、硅质耐火材料的X射线荧光光谱分析 |
| 阚斌,赵惠君,李良骅 |
| 马钢股份有限公司钢研所 |
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摘要 采用Ｘ射线荧光光谱仪测定铝、硅质耐火材料，研究了系统制样方法及基体吸收－增强效应的校正，还研究了测定精度及制样精度，拓展了铝、硅质耐火材料的分析范围。
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| 关键词 ：
X射线荧光光谱,
耐火材料,
硅,
铝
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出版日期: 1998-10-30
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| 基金资助:无 |
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通讯作者:
阚斌
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