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| 微米束核探针及其应用 |
| 任炽刚,黄发泱,胡卫明,傅耀宗,周世俊,王樨德,汤家镛 |
| 复旦大学物理二系,复旦大学物理二系,复旦大学物理二系,复旦大学物理二系,复旦大学物理二系,复旦大学物理二系,复旦大学物理二系 上海200433,上海200433,上海200433,上海200433,上海200433,上海200433,上海200433 |
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摘要 粒子激发的X射线分析(PIXE)和卢瑟福背散射法(RBS)可以用来作作品全元素(Z>11)的定量分析.由于这个方法简便、非破坏性及需要的样品量极少,因此得到分析界的普遍重视.如果将粒子束聚焦,且装上扫描设备和计算机数据获取系统,可以得到样品中元素丰度分布的扫描图.这个核探针曾用于检验一块钢样的裂缝,以分析裂缝形成的可能原因.也曾用于观测东汉年代制造的铜镜的截面上的元素的分布.
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| 关键词 ：
微米束,
扫描核探针,
质子X荧光分析,
无标样微区定量分析
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出版日期: 1993-08-30
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| 基金资助:无 |
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通讯作者:
任炽刚
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