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| ICP-AES法测定铱化合物中杂质成分 |
| 徐锁平,杨萍,高志祥 |
| 北京有色金属研究总院,北京有色金属研究总院,北京有色金属研究总院 北京 100088 ,北京 100088,北京 100088 |
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摘要 对铱化合物中的常见微量杂质Al,Ba,Au,Pd,Pt,Ru,Rh进行了分析研究。利用ICP-AES仪器的优异性能,通过对基体效应、光谱干扰、酸度影响、等离子体测定条件等方面的考察,确定了在铱基体中共存微量离子的检测条件。各离子的检出限分别为:Pt0.39μg/mL,Pd0.03μg/mL,Al0.051μg/mL,Ba0.0027μg/mL,Au0.025μg/mL,Ru0.045μg/mL,Rh0.13μg/mL。各金属离子回收率:95%～102%。相对标准偏差RSD均小于10%。本文所建立的方法,准
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| 关键词 ：
ICP-AES,
Ir基体,
杂质
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出版日期: 2003-04-30
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| 基金资助:无 |
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通讯作者:
徐锁平
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