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| X-射线荧光光谱法测定生铁中硅和磷 |
| 甄洪香,徐增芹,葛镧 |
| 济南钢铁集团总公司技术监督处,济南钢铁集团总公司技术监督处,济南钢铁集团总公司技术监督处 山东济南250101,山东济南250101,山东济南250101 |
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摘要 探讨了应用能量色散型X-射线荧光光谱仪测定生铁中硅和磷的炉前快速分析方法。该方法所得测定结果与化学法测定结果或标样认定值相吻合,相对标准偏差小于1.3%,与化学法相比,硅和磷的测定时间由15 min缩短到2 min。
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| 关键词 ：
偏振式能量色散型X-射线荧光光谱仪,
生铁,
次级靶
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出版日期: 2005-08-30
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| 基金资助:无 |
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通讯作者:
甄洪香
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