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| 硅酸盐类样品中微量钨钼锡铋的发射光谱分析 |
| 周俊治,刘磊夫 |
| 华北有色地勘公司燕郊中心实验室,华北有色地勘公司燕郊中心实验室 |
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摘要 地质样品中ppb～ppm级痕量钨、钼、锡、铋的测定在经典分析化学中是十分困难的。现代氢化物—原子吸收法,原子荧光以及催化极谱等方法对上述元素的测定虽然检出限很低,但对于较复杂的地质样品,上述方法似有许多不足之处。
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| 关键词 ：
锡铋,
微量钨,
发射光谱分析,
硅酸盐类,
缓冲剂,
弧烧,
内标元素,
检出限,
摄谱,
地质样品
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出版日期: 1986-12-30
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| 基金资助:无 |
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通讯作者:
周俊治
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