|
|
|
| XCT—可控硅调节器在管式炉中的应用 |
| 戴习新 |
| 贵州冶金设计研究院 |
|
|
|
|
摘要 管式炉是燃烧法测定碳、硫用的设备,它在熔样时,由于热效应,实际上温度是一条沿着给定温度1250～1300℃上下波动的曲线,处于给定温度的下线时间占多数。使样品分解不完全,造成分析结果偏低,另一方面碳硅棒的热惯性较大,输入功率从0～100％分合控制,进行恒温容易烧断,给分析样品带来麻烦。针对这些问题,我们安装了简单的可控硅装置与XCT温调器相配合,控制管式炉的温度。
|
|
| 关键词 ：
可控硅调节器,
管式炉,
碳硅棒,
输入功率,
分析样品,
燃烧法,
可控硅装置,
样品分解,
控制管,
可控硅控制
|
|
出版日期: 1983-08-30
|
| 基金资助:无 |
|
通讯作者:
戴习新
|
| [1] |
李英秋, 纪新华, 吴梅, 米俊. 管式炉加热-红外吸收法测定铀金属中碳[J]. 冶金分析, 2015, 35(1): 59-62. |
| [2] |
原怀保，李月红 . 管式炉加热—红外吸收法测定内螺纹铜管内表面残碳量[J]. 冶金分析, 2012, 32(5): 62-65. |
| [3] |
张芳，孟祥升，张东生. 管式炉燃烧-红外吸收法测定煤焦油中硫含量[J]. 冶金分析, 2011, 31(6): 48-50. |
| [4] |
程坚平;徐汾兰;. 管式炉加热红外吸收法测定脱氧剂中碳化硅及游离碳[J]. 冶金分析, 2007, 27(8): 1-1. |
| [5] |
粟淘. 高频感应炉燃烧法测定锑中硫量[J]. 冶金分析, 2002, 22(4): 1-1. |
| [6] |
王宝如;李纪辰. 发射光谱法测定锡铅合金中杂质[J]. 冶金分析, 1999, 19(1): 1-1. |
| [7] |
王淑英;刘杰. 镁钕合金中铁镍钼铜和硅的光谱测定[J]. 冶金分析, 1989, 9(6): 1-1. |
| [8] |
程建邦;李传芳;谢荣厚. 用能量色散X射线荧光光谱法测定合金钢中Mo、Cr、Ni、Si、P、S[J]. 冶金分析, 1987, 7(5): 1-1. |
| [9] |
吴瑞林. 几种特殊溶解法在贵金属分析中的应用[J]. 冶金分析, 1985, 5(3): 1-1. |
|
|
|
|
