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| X射线荧光光谱法测定纯铜中微量杂质元素 |
| 宋洪霞; |
| 福建省三钢闽光股份有限公司质量计量部中心检验所; |
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摘要 对X射线荧光光谱法测定纯铜中微量杂质元素的实验条件,背景和光谱重叠干扰及校正进行研究。通过以纯铜标准样品绘制校准曲线,采用专用空白试样测量背景强度,多项式(多点)拟合计算峰底背景,专用的标准样品计算与分析线的重叠干扰量并加以校正,理论α系数法或基本参数法校正样品中元素间的吸收-增强效应,选择高反射率的人工晶体PX-10测定部分重金属痕量元素,成功地用X射线荧光光谱法测定纯铜中微量杂质元素。样品的分析结果与推荐值或火花源原子发射光谱的测定值符合,回收率在95%～102%范围,各元素的相对标准偏差(RSD)均小于5.0%。
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| 关键词 ：
X射线荧光光谱,
纯铜,
理论α系数法,
基体效应校正
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出版日期: 2009-08-30
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通讯作者:
宋洪霞;
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