聚焦离子束-双束扫描电子显微镜在断口裂纹分析中的应用

邹永纯, 孙佳硕, 邵帝华, 邸玥, 王树棋, 陈国梁, 叶志云, 王亚明

冶金分析 ›› 2026, Vol. 46 ›› Issue (1) : 63-71.

PDF(9371 KB)
PDF(9371 KB)
冶金分析 ›› 2026, Vol. 46 ›› Issue (1) : 63-71. DOI: 10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.013163
钢铁冶金

聚焦离子束-双束扫描电子显微镜在断口裂纹分析中的应用

  • {{article.zuoZhe_CN}}
作者信息 +

Application of focused ion beam dual-beam scanning electron microscope in fracture crack analysis

  • {{article.zuoZhe_EN}}
Author information +
文章历史 +

本文亮点

{{article.keyPoints_cn}}

HeighLight

{{article.keyPoints_en}}

摘要

{{article.zhaiyao_cn}}

Abstract

{{article.zhaiyao_en}}

关键词

Key words

图表

本文二维码

引用本文

导出引用
{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2026, 46(1): 63-71 https://doi.org/10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.013163
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2026, 46(1): 63-71 https://doi.org/10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.013163
中图分类号:

参考文献

参考文献

{{article.reference}}

基金


编委:
主编:
责任编辑:
编辑:

版权

{{article.copyrightStatement_cn}}
{{article.copyrightLicense_cn}}
PDF(9371 KB)

Accesses

Citation

Detail

段落导航
相关文章

/