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X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质含量 |
罗湘宁,李友元,吴志华 |
中铝股份广西分公司中心试验室,中铝股份广西分公司中心试验室,中铝股份广西分公司中心试验室 广西平果 531400 ,广西平果 531400 ,广西平果 531400 |
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摘要 对X射线荧光光谱测定氧化铝中杂质元素的方法进行了研究。利用系列标准样品制作工作曲线,采用混合熔剂四硼酸锂加偏硼酸锂(12+22)熔融制样法分析了SiO2,Fe2O3,Na2O,制备熔片的稀释比为1∶3;直接压片制样法分析了TiO2,V2O5,P2O5,ZnO。SiO2,Fe2O3,Na2O,TiO2,V2O5,P2O5,ZnO测定结果的RSD分别为2.61%,2.61%,2.33%,4.62%,8.24%,8.00%和1.79%。该方法用于氧化铝生产控制及产品分析,数据准确、可靠,结果令人满意。
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关键词 :
X射线荧光,
压片,
熔融,
氧化铝,
杂质
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出版日期: 2003-10-30
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基金资助:无 |
通讯作者:
罗湘宁
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